Nachricht senden
produits
EINZELHEITEN ZU DEN PRODUKTEN
Haus > Produits >
Elektrische magnetische Querzelle Iecs 61967-2 Chip Test Integrated Circuit Gigahertz

Elektrische magnetische Querzelle Iecs 61967-2 Chip Test Integrated Circuit Gigahertz

MOQ: 1
Preis: Customized
Standardverpackung: Sperrholzkiste
Lieferfrist: 30 Tage
Zahlungs-Methode: T/T
Lieferkapazität: 5 Sätze pro Monat
Ausführliche Information
Herkunftsort
China
Markenname
Sinuo
Zertifizierung
Calibration Certificate (Cost Additional)
Modellnummer
SN6018
Frequenzbereich:
DC-6GHz
Eingangsimpedanz:
50Ω±5Ω
Stehwellenverhältnis:
≤1.75
Maximale Eingangsleistung:
1000W
Maximale elektronische Fachhöhe:
750mm
±3dB-Feld-Einheitlichkeitstestgebiet:
350 Millimeter x 350 Millimeter
Maximales empfohlenes EUT-Testgebiet:
67,5 x 67,5 x 49cm
Zellmaße von äußerem:
4.0m x 2.2m x 2.1m
Min Bestellmenge:
1
Preis:
Customized
Verpackung Informationen:
Sperrholzkiste
Lieferzeit:
30 Tage
Zahlungsbedingungen:
T/T
Versorgungsmaterial-Fähigkeit:
5 Sätze pro Monat
Hochlicht:

Elektrische magnetische Zelle Iecs 61967-2

,

Chip Test Transverse Electro Magnetic-Zelle

Beschreibung des Produkts

 

Elektrische magnetische Querzelle Iecs 61967-2 Chip Test Integrated Circuit Gigahertz

 

Produktübersicht für Zelle Chip Test Integrated Circuits GTEM:

 

Gigahertz-ist elektromagnetische Wellen-querzelle GTEM (Gigahertz-Quergalvano magnetisch) ein geschlossener Wellenleiter des Einzelhafens mit einer Frequenz bis zu 20GHz.

Unter Verwendung GTEM (Gigahertz-elektromagnetische querwelle) für Prüfung der elektromagnetischen Kompatibilität ist eine neue Maßtechnologie, die in den letzten Jahren auf dem Gebiet der internationalen elektromagnetischen Kompatibilität entwickelt wird. Wegen Breitbandeigenschaften GTEMS (von Gleichstrom zu Mikrowelle) und niedrige Kosten (nur einige Prozente von den Kosten eines schalltoten Raumes), kann sie für Anfälligkeitstests der elektromagnetischen Strahlung verwendet werden (EMS-Tests, nannten manchmal Immunitätstests). Sie kann für Test der elektromagnetischen Strahlung (EMS-Test) auch verwendet werden und die Ausrüstung, die benutzt wird (verglichen mit dem Test im schalltoten Raum) hat einfache Konfiguration. Die Kosten sind billig und sie kann für schnelle und automatische Prüfung verwendet werden, also ist sie mehr und mehr Aufmerksamkeit von den relevanten internationalen und inländischen Leuten gezahlt worden. Unter ihnen besonders für die Prüfung der kleinen Ausrüstung, ist die Maßlösung der GTEM-Zelle die beste Testlösung mit dem besten Leistungpreisverhältnis.

 

Prüfnormen für Zelle Chip Test Integrated Circuits GTEM:

 

GTEM-Zellen (Gigahertz-Quergalvano magnetisch) EMC-Standard von GTEM-Zelle:

EMS-Standards: Stellen Sie eine allgemeine Basis für die Bewertung der ausgestrahlten Emissionen der elektrischen und elektronischen Ausrüstung her (Komponenten).

Maß Iecs 61967-2 der elektromagnetischen Emission von den integrierten Schaltungen 150kHz 1GHz zum Teil 2: Ausgestrahlte Methode der Emissionsmessung TEM Zell.

Ems-Standard: Zu eine allgemeine Basis für die Bewertung der Fähigkeit der elektrischen und elektronischen Ausrüstung herstellen, ausgestrahlter Störung des elektromagnetischen Feldes zu widerstehen.

Maß Iecs 62132-2 der elektromagnetischen Immunität Teils 2 der integrierten Schaltungen 150kHz~1GHz: TEM- und GTEM-Zellmethode.

IEC 61000-4-20, EN 61000-4-20

IEC 61000-4-3, EN 61000-4-3

IEC 61000-6-3, EN 61000-6-3

IEC 61000-6-4, EN 61000-6-4

ISO 11452-3, SAE J1113-24

 

Zusammensetzung für Zelle Chip Test Integrated Circuits GTEM:

 

GTEM kann als eine räumliche Expansion des Koaxialkabels 50Ω angesehen werden, um den gemessenen Gegenstand unterzubringen. Der Kerndraht des Koaxialkabels wird erweitert, um die Kernplatte der GTEM-Zelle zu sein, und die Hülle des Koaxialkabels wird in das Oberteil der GTEM-Zelle gemacht. Der Wellenwiderstand innerhalb der GTEM-Zelle ist noch entworfen, um 50Ω zu sein. Um zu verhindern dass die elektromagnetische Welle des Input am Ende des internen Hohlraumes, das Ende des Kernbrettes wird angeschlossen an eine zusammenpassende Breitbandlast reflektiert, und ein Welle-absorbierendes Material wird am Ende des Hohlraumes gesetzt. Zwecks die elektromagnetischen Wellen absorbieren abgegeben an das Ende.

Die elektromagnetische querwelle pflanzt entlang der Kernplatte fort, und die elektrische Feldstärke, die erzeugt wird, ist zur Spannung proportional, die auf der Kernplatte angewendet wird. Die Stärke des Feldes in verschiedenen Positionen hängt auch von der Höhe des Kernbrettes (der Abstand zwischen dem Innenleiter und dem Boden) ab, näher an dem Fach, das stärker die Feldstärke.

 

Technische Parameter für Zelle Chip Test Integrated Circuits GTEM:

 

Hauptleistungsindikatoren:

Frequenzbereich: DC-6GHz

Eingangsimpedanz: 50Ω±5Ω (typischer Wert: 50Ω±2Ω)

Stehwellenverhältnis: ≤1.75 (typischer Wert: ≤1.5)

Maximale Eingangsleistung: 1000W

Zellmaße von äußerem: 4.0m x 2.2m x 2.1m (L x W x H)

Maximale elektronische Fachhöhe: 750mm

±3dB-Feld-Einheitlichkeitstestgebiet: 350 Millimeter x 350 Millimeter

Maximales empfohlenes EUT-Testgebiet: 67,5 x 67,5 x 49cm

Gewicht: 500kg

 

Frequenzbereich 80MHz-1000MHz
Spitzenleistung 70W
Gewinn +49dB
Art
Lineare Energiegewinnflachheit Maximales ±3dB
Input-/Outputwiderstand 50ohm
Eingegebenes VSWR Maximales 2:1
Eingangsleistung Maximales +0dBm
Klirren H2, H3<-20dbc of="" output="" power="" at="" 1dB="" compression="" point="" limit="">
Rf-Inputschnittstelle N-artige Anschlussfrau (Vorderteil oder Rückseite), andere Schnittstellen kann besonders angefertigt werden
Rf-Ausgabeschnittstelle N-artige Anschlussfrau (Vorderteil oder Rückseite), andere Schnittstellen kann besonders angefertigt werden
 
Elektrische magnetische Querzelle Iecs 61967-2 Chip Test Integrated Circuit Gigahertz 0
 
Elektrische magnetische Querzelle Iecs 61967-2 Chip Test Integrated Circuit Gigahertz 1

 

produits
EINZELHEITEN ZU DEN PRODUKTEN
Elektrische magnetische Querzelle Iecs 61967-2 Chip Test Integrated Circuit Gigahertz
MOQ: 1
Preis: Customized
Standardverpackung: Sperrholzkiste
Lieferfrist: 30 Tage
Zahlungs-Methode: T/T
Lieferkapazität: 5 Sätze pro Monat
Ausführliche Information
Herkunftsort
China
Markenname
Sinuo
Zertifizierung
Calibration Certificate (Cost Additional)
Modellnummer
SN6018
Frequenzbereich:
DC-6GHz
Eingangsimpedanz:
50Ω±5Ω
Stehwellenverhältnis:
≤1.75
Maximale Eingangsleistung:
1000W
Maximale elektronische Fachhöhe:
750mm
±3dB-Feld-Einheitlichkeitstestgebiet:
350 Millimeter x 350 Millimeter
Maximales empfohlenes EUT-Testgebiet:
67,5 x 67,5 x 49cm
Zellmaße von äußerem:
4.0m x 2.2m x 2.1m
Min Bestellmenge:
1
Preis:
Customized
Verpackung Informationen:
Sperrholzkiste
Lieferzeit:
30 Tage
Zahlungsbedingungen:
T/T
Versorgungsmaterial-Fähigkeit:
5 Sätze pro Monat
Hochlicht

Elektrische magnetische Zelle Iecs 61967-2

,

Chip Test Transverse Electro Magnetic-Zelle

Beschreibung des Produkts

 

Elektrische magnetische Querzelle Iecs 61967-2 Chip Test Integrated Circuit Gigahertz

 

Produktübersicht für Zelle Chip Test Integrated Circuits GTEM:

 

Gigahertz-ist elektromagnetische Wellen-querzelle GTEM (Gigahertz-Quergalvano magnetisch) ein geschlossener Wellenleiter des Einzelhafens mit einer Frequenz bis zu 20GHz.

Unter Verwendung GTEM (Gigahertz-elektromagnetische querwelle) für Prüfung der elektromagnetischen Kompatibilität ist eine neue Maßtechnologie, die in den letzten Jahren auf dem Gebiet der internationalen elektromagnetischen Kompatibilität entwickelt wird. Wegen Breitbandeigenschaften GTEMS (von Gleichstrom zu Mikrowelle) und niedrige Kosten (nur einige Prozente von den Kosten eines schalltoten Raumes), kann sie für Anfälligkeitstests der elektromagnetischen Strahlung verwendet werden (EMS-Tests, nannten manchmal Immunitätstests). Sie kann für Test der elektromagnetischen Strahlung (EMS-Test) auch verwendet werden und die Ausrüstung, die benutzt wird (verglichen mit dem Test im schalltoten Raum) hat einfache Konfiguration. Die Kosten sind billig und sie kann für schnelle und automatische Prüfung verwendet werden, also ist sie mehr und mehr Aufmerksamkeit von den relevanten internationalen und inländischen Leuten gezahlt worden. Unter ihnen besonders für die Prüfung der kleinen Ausrüstung, ist die Maßlösung der GTEM-Zelle die beste Testlösung mit dem besten Leistungpreisverhältnis.

 

Prüfnormen für Zelle Chip Test Integrated Circuits GTEM:

 

GTEM-Zellen (Gigahertz-Quergalvano magnetisch) EMC-Standard von GTEM-Zelle:

EMS-Standards: Stellen Sie eine allgemeine Basis für die Bewertung der ausgestrahlten Emissionen der elektrischen und elektronischen Ausrüstung her (Komponenten).

Maß Iecs 61967-2 der elektromagnetischen Emission von den integrierten Schaltungen 150kHz 1GHz zum Teil 2: Ausgestrahlte Methode der Emissionsmessung TEM Zell.

Ems-Standard: Zu eine allgemeine Basis für die Bewertung der Fähigkeit der elektrischen und elektronischen Ausrüstung herstellen, ausgestrahlter Störung des elektromagnetischen Feldes zu widerstehen.

Maß Iecs 62132-2 der elektromagnetischen Immunität Teils 2 der integrierten Schaltungen 150kHz~1GHz: TEM- und GTEM-Zellmethode.

IEC 61000-4-20, EN 61000-4-20

IEC 61000-4-3, EN 61000-4-3

IEC 61000-6-3, EN 61000-6-3

IEC 61000-6-4, EN 61000-6-4

ISO 11452-3, SAE J1113-24

 

Zusammensetzung für Zelle Chip Test Integrated Circuits GTEM:

 

GTEM kann als eine räumliche Expansion des Koaxialkabels 50Ω angesehen werden, um den gemessenen Gegenstand unterzubringen. Der Kerndraht des Koaxialkabels wird erweitert, um die Kernplatte der GTEM-Zelle zu sein, und die Hülle des Koaxialkabels wird in das Oberteil der GTEM-Zelle gemacht. Der Wellenwiderstand innerhalb der GTEM-Zelle ist noch entworfen, um 50Ω zu sein. Um zu verhindern dass die elektromagnetische Welle des Input am Ende des internen Hohlraumes, das Ende des Kernbrettes wird angeschlossen an eine zusammenpassende Breitbandlast reflektiert, und ein Welle-absorbierendes Material wird am Ende des Hohlraumes gesetzt. Zwecks die elektromagnetischen Wellen absorbieren abgegeben an das Ende.

Die elektromagnetische querwelle pflanzt entlang der Kernplatte fort, und die elektrische Feldstärke, die erzeugt wird, ist zur Spannung proportional, die auf der Kernplatte angewendet wird. Die Stärke des Feldes in verschiedenen Positionen hängt auch von der Höhe des Kernbrettes (der Abstand zwischen dem Innenleiter und dem Boden) ab, näher an dem Fach, das stärker die Feldstärke.

 

Technische Parameter für Zelle Chip Test Integrated Circuits GTEM:

 

Hauptleistungsindikatoren:

Frequenzbereich: DC-6GHz

Eingangsimpedanz: 50Ω±5Ω (typischer Wert: 50Ω±2Ω)

Stehwellenverhältnis: ≤1.75 (typischer Wert: ≤1.5)

Maximale Eingangsleistung: 1000W

Zellmaße von äußerem: 4.0m x 2.2m x 2.1m (L x W x H)

Maximale elektronische Fachhöhe: 750mm

±3dB-Feld-Einheitlichkeitstestgebiet: 350 Millimeter x 350 Millimeter

Maximales empfohlenes EUT-Testgebiet: 67,5 x 67,5 x 49cm

Gewicht: 500kg

 

Frequenzbereich 80MHz-1000MHz
Spitzenleistung 70W
Gewinn +49dB
Art
Lineare Energiegewinnflachheit Maximales ±3dB
Input-/Outputwiderstand 50ohm
Eingegebenes VSWR Maximales 2:1
Eingangsleistung Maximales +0dBm
Klirren H2, H3<-20dbc of="" output="" power="" at="" 1dB="" compression="" point="" limit="">
Rf-Inputschnittstelle N-artige Anschlussfrau (Vorderteil oder Rückseite), andere Schnittstellen kann besonders angefertigt werden
Rf-Ausgabeschnittstelle N-artige Anschlussfrau (Vorderteil oder Rückseite), andere Schnittstellen kann besonders angefertigt werden
 
Elektrische magnetische Querzelle Iecs 61967-2 Chip Test Integrated Circuit Gigahertz 0
 
Elektrische magnetische Querzelle Iecs 61967-2 Chip Test Integrated Circuit Gigahertz 1

 

Sitemap |  Datenschutzrichtlinie | China gut Qualität Elektrogerät-Testgerät Lieferant. Urheberrecht © 2019-2024 sinuotek.com . Alle Rechte vorbehalten.